1. Способ определения локальной деформации в кристалле алмаза с использованием оптически детектируемого магнитного резонанса NV дефектов

    2. Патент РФ № 2798040, тип: Изобретение

    Заявка № 2022129649 от 15.11.2022
    Зарегистрировано в Госреестре  14.06.2023

    Бабунц Р.А., Анисимов А.Н., Гурин А.С., Бундакова А.П., Музафарова М.В., Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  2. Программа для увеличения динамического диапазона высокочастотного ЭПР/ОДМР спектрометра

    3. Патент РФ № 2022669432, тип: Программа для ЭВМ

    Заявка № 2022667811 от 29.09.2022
    Зарегистрировано в Госреестре  19.10.2022

    Бабунц Р.А., Успенская Ю.А.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  3. Способ определения расстояния между NV дефектом и замещающим азотом N в кристалле алмаза

    4. Патент РФ № 2775869, тип: Изобретение

    Заявка № 2021134108 от 22.11.2021
    Зарегистрировано в Госреестре 11.07.2022

    Бабунц Р.А., Анисимов А.Н., Яковлева В.В., Бреев И.Д., Бундакова А.П., Музафарова М.В., Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  4. Программа для просмотра и предварительной обработки ЭПР/ОДМР спектров

    5. Патент РФ № 2020660966, тип: Программа для ЭВМ

    Заявка № 2020660028 от 04.09.2020
    Зарегистрировано в Госреестре  15.09.2020

    Бабунц Р.А., Гурин А.С., Единач Е.В., Музафарова М.В., Успенская Ю.А.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  5. Программа автоматизации высокочастотного ЭПР/ОДМР спектрометра

    6. Патент РФ № 2019666685, тип: Программа для ЭВМ

    Заявка № 2019665890 от 04.12.2019
    Зарегистрировано в Госреестре  13.19.2019

    Бабунц Р.А.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  6. Высокочастотный спектрометр электронного парамагнитного резонанса

    7. Патент РФ № 2711228, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения 14.06.2019
    Зарегистрировано в Госреестре  15.01.2020
    Срок действия патента истекает  14.06.2039

    Бабунц Р.А., Бадалян А.Г., Успенская Ю.А., Гурин А.С., Романов Н.Г.,
    Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  7. Высокочастотный спектрометр электронного парамагнитного резонанса

    8. Патент РФ № 2711345, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения 11.06.2019
    Зарегистрировано в Госреестре  16.01.2020
    Срок действия патента истекает  11.06.2039

    Бабунц Р.А., Бадалян А.Г., Единач Е.В., Гурин А.С., Романов Н.Г., Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  8. Способ измерения температуры

    9. Патент РФ № 2691766, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения 27.08.2018
    Зарегистрировано в Госреестре  18.06.2019
    Срок действия патента истекает  27.08.2038

    Анисимов А.Н., Бабунц Р.А., Музафарова М.В., Бундакова А.П., Солтамов В.А., Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  9. Способ измерения магнитного поля

    10. Патент РФ № 2695593, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения 28.06.2018
    Зарегистрировано в Госреестре  24.07.2019
    Срок действия патента истекает  28.06.2038

    Анисимов А.Н., Бабунц Р.А., Музафарова М.В., Бундакова А.П., Солтамов В.А., Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  10. Оптический магнитометр

    11. Патент РФ № 2691774, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения 28.06.2018
    Зарегистрировано в Госреестре  18.06.2019
    Срок действия патента истекает  28.06.2038

    Анисимов А.Н., Бабунц Р.А., Музафарова М.В., Гурин А.С., Солтамов В.А.,
    Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  11. Оптический магнитометр

    12. Патент РФ № 2691775, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения 28.06.2018
    Зарегистрировано в Госреестре  18.06.2019
    Срок действия патента истекает  28.06.2038

    Анисимов А.Н., Бабунц Р.А., Музафарова М.В., Ильин И.В., Солтамов В.А.,
    Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  12. Characterization apparatus for characterizing scintillator material

    13. Patent No.: US 10,101,471 B2

    US 2017/02055 15 Al Jul. 20, 2017

    H.K. Wieczorek, Aachen (DE); C.R. Ronda, Aachen (DE); H.-A. Wischmann, Henstedt-Ulzburg (DE);
    P.G. Baranov, Saint-Petersburg (RU); G. Asatrian, Saint-Petersburg (RU); D.O. Tolmachev, Saint-Petersburg (RU)
    Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS N.Y., Eindhoven (NL); IOFFE PHYSICAL TECHNICAL INSTITUTE, St. Petersburg (RU)

  13. Спектрометр электронного парамагнитного резонанса

    14. Патент РФ № 2634075, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  05.09.2016
    Зарегистрировано в Госреестре  23.10.2017
    Срок действия патента истекает  05.09.2036

    Баранов П.Г., Бабунц Р.А., Бадалян А.Г., Гурин А.С., Романов Н.Г., Богданов Л.Ю., Наливкин А.В.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  14. Спектрометр электронного парамагнитного резонанса

    15. Патент РФ № 2634076, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  28.07.2016
    Зарегистрировано в Госреестре  23.10.2017
    Срок действия патента истекает  28.07.2036

    Баранов П.Г., Бабунц Р.А., Бадалян А.Г., Гурин А.С., Романов Н.Г., Богданов Л.Ю., Наливкин А.В.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  15. Способ измерения температуры

    16. Патент РФ № 2617293, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  01.12.2015
    Зарегистрировано в Госреестре  24.04.2017
    Срок действия патента истекает  01.12.2035

    Анисимов А.Н., Солтамов В.А., Музафарова М.В., Бундакова А.П., Бабунц Р.А., Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  16. Оптический квантовый термометр

    17. Патент РФ № 2617194, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  01.12.2015
    Зарегистрировано в Госреестре  21.04.2017
    Срок действия патента истекает  01.12.2035

    Анисимов А.Н., Бабунц Р.А., Музафарова М.В., Ильин И.В., Солтамов В.А., Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  17. Оптический магнитометр

    18. Патент РФ № 2607840, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  19.08.2015
    Зарегистрировано в Госреестре  20.01.2017
    Срок действия патента истекает  19.08.2035

    Бабунц Р.А., Музафарова М.В., Анисимов А.Н., Толмачев Д.О., Астахов Г.В., Солтамов В.А., Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  18. Способ измерения магнитного поля

    19. Патент РФ № 2601734, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  12.08.2015
    Зарегистрировано в Госреестре  13.10.2016
    Срок действия патента истекает  12.08.2035

    Бабунц Р.А., Музафарова М.В., Анисимов А.Н., Бундакова А.П., Толмачев Д.О., Астахов Г.В., Солтамов В.А., Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  19. Способ определения ориентации NV дефектов в кристалле

    20. Патент РФ № 2570471, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  15.12.2014
    Зарегистрировано в Госреестре  10.12.2015
    Срок действия патента истекает  15.12.2034

    Баранов П.Г., Солтамов В.А., Анисимов А.Н., Музафарова М.В., Бабунц Р.А.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  20. Способ получения кристаллических алмазных частиц

    21. Патент РФ № 2576055, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  12.09.2013
    Зарегистрировано в Госреестре  02.02.2016
    Срок действия патента истекает  12.09.2033

    Шахов Ф.М., Кидалов С.В., Баранов П.Г., Бабунц Р.А., Саксеев Д.А., Алексенский А.Е., Байдакова М.В., Вуль А.Я.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  21. Активный материал для мазера с оптической накачкой и мазер с оптической накачкой

    22. Патент РФ № 2523744, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  24.08.2012
    Зарегистрировано в Госреестре  28.05.2014
    Срок действия патента истекает  24.08.2032

    Баранов П.Г., Бабунц Р.А., Солтамова А.А., Солтамов В.А., Бундакова А.П.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  22. Способ определения угла разориентированности кристаллитов алмаза в композите алмаза

    23. Патент РФ № 2522596, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  31.07.2012
    Зарегистрировано в Госреестре  21.05.2014
    Срок действия патента истекает  31.07.2032

    Баранов П.Г., Бабунц Р.А., Солтамова А.А., Вуль А.Я., Кидалов С.В., Шахов Ф.М.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  23. Способ оптического детектирования магнитного резонанса и устройство для его осуществления

    24. Патент РФ № 2483316, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  24.11.2011
    Зарегистрировано в Госреестре  27.05.2013
    Срок действия патента истекает  24.11.2031

    Бабунц Р.А.,  Солтамова А.А., Бадалян А.Г.,  Романов Н.Г., Баранов П.Г.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  24. Способ получения алмазной структуры с азотно-вакансионными дефектами

    25. Патент РФ № 2448900, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  28.07.2010
    Зарегистрировано в Госреестре   27.04.2012
    Срок действия патента истекает  28.07.2030

    Баранов П.Г., Вуль А.Я.,  Кидалов С.В.,  Солтамова А.А., Шахов Ф.М.
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  25. Спектрометр электронного парамагнитного резонанса (варианты)

    26. Патент РФ № 2411530,  тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  24.11.2009
    Зарегистрировано в Госреестре  10.02.2011
    Срок действия патента истекает  24.11.2029

    Баранов П.Г., Бабунц Р.А., Бадалян А.Г., Романов Н.Г., Богданов Л.Ю., Наливкин А.В.  
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  26. Спектрометр электронного парамагнитного резонанса

    27. Патент РФ № 2411529, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  24.08.2009
    Зарегистрировано в Госреестре  10.02.2011
    Срок действия патента истекает  24.08.2029

    Баранов П.Г., Бабунц Р.А., Бадалян А.Г., Романов Н.Г.  
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  27. Способ калибровки спектрометра электронного парамагнитного резонанса и калибровочный образец для его осуществления

    28. Патент РФ № 2394230, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения  08.06.2009
    Зарегистрировано в Госреестре  10.07.2010
    Срок действия патента истекает  08.06.2029

    Бадалян А.Г., Бабунц Р.А., Баранов П.Г., Романов Н.Г.  
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН

  28. Способ определения размеров наночастиц и устройство для измерения спектра электронного парамагнитного резонанса

    29. Патент РФ № 2395448, тип: Изобретение

    Приоритет изобретения   04.05.2009
    Зарегистрировано в Госреестре 27.07.2010
    Срок действия патента истекает  04.05.2029

    Бабунц Р.А., Бадалян А.Г., Баранов, П.Г., Романов Н.Г.  
    Правообладатель: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН