Страницы: 1993 - 2001
Авторы:Shames,AI; Panich,AM; Kempinski,W; Alexenskii,AE; Baidakova,MV; Dideikin,AT; Osipov,VY; Siklitski,VI; Osawa,E; Ozawa,M; Vul`,AY
Авторы (ФТИ):Alexenskii,AE; Baidakova,MV; Dideikin,AT; Osipov,VY; Siklitski,VI; Vul`,AY
Подразделения:

• лаб. фотоэлектрических явлений в полупроводниках (Мынбаева,КД)
• лаб. физики кластерных структур (Дидейкина,АТ)
• лаб. диагностики материалов и структур твердотельной электроники (Брункова,ПН)

DOI:http://dx.doi.org/10.1016/S0022-3697(02)00185-3 Scopus® times cited:171 Scopus® ID:2-s2.0-0036837303 Web of Science® times cited:164 Web of Science® ID:WOS:000178320500005
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1016/S0022-3697(02)00185-3