Страницы: 373 - 380
Авторы:Shornikova,EV; Biadala,L; Yakovlev,DR; Feng,D; Sapega,VF; Flipo,N; Golovatenko,AA; Semina,MA; Rodina,AV; Mitioglu,AA; Ballottin,MV; Christianen,PC; Kusrayev,YG; Nasilowski,M; Dubertret,B; Bayer,M
Авторы (ФТИ):Yakovlev,DR; Sapega,VF; Golovatenko,AA; Semina,MA; Rodina,AV; Kusrayev,YG; Bayer,M
Подразделения:

• лаб. спектроскопии твердого тела (Старухина,АН)
• сектор теоретических основ микроэлектроники (Зегри,ГГ)

DOI:http://dx.doi.org/10.1021/acs.nanolett.7b04203 Scopus® times cited:49 Scopus® ID:2-s2.0-85040312253 Web of Science® times cited:42 Web of Science® ID:WOS:000420000000050
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1021/acs.nanolett.7b04203