Номер статьи: #214411
Авторы:Dyakov,SA; Fradkin,IM; Gippius,NA; Klompmaker,L; Spitzer,F; Yalcin,E; Akimov,IA; Bayer,M; Yavsin,DA; Pavlov,SI; Pevtsov,AB; Verbin,SY; Tikhodeev,SG
Авторы (ФТИ):Akimov,IA; Bayer,M; Yavsin,DA; Pavlov,SI; Pevtsov,AB
Подразделения:

• лаб. диагностики материалов и структур твердотельной электроники (Брункова,ПН)
• лаб. физики аморфных полупроводников (Стовпяга,ЕЮ)
• лаб. спиновых и оптических явлений в полупроводниках (Кусраева,ЮГ)
• лаб. полупроводниковой квантовой электроники (Маркова,ЛК)

DOI:http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.100.214411 Scopus® times cited:30 Scopus® ID:2-s2.0-85076512574 Web of Science® times cited:21 Web of Science® ID:WOS:000502108600002
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.100.214411