Field-enhanced ionization of deep-level centers as a triggering mechanism for superfast impact ionization fronts in Si structures
2005 , J. Appl. Phys., v.98, 9
ISSN: 0021-8979

Номер статьи: #094506
Авторы:Rodin,P; Rodina,A; Grekhov,I
Авторы (ФТИ):Rodin,P; Rodina,A; Grekhov,I
Подразделения: DOI:http://dx.doi.org/10.1063/1.2125118 Scopus® times cited:33 Scopus® ID:2-s2.0-27844497647 Web of Science® times cited:32 Web of Science® ID:WOS:000233304700094
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1063/1.2125118