Название: | Получение и исследование структур с квантовыми точками на основе политипов карбида кремния (SiC) |
Грантодатель: | РФФИ |
Область знаний: | 02 - ФИЗИКА И АСТРОНОМИЯ |
Научная дисциплина: | 02-202 Полупроводники 02-204 Поверхность и тонкие пленки 02-205 Микроструктуры |
Ключевые слова: | карбид кремния, сублимационная эпитаксия, политипизм, квантовые точки, квантово-размерные эффекты, рентгеновская дифрактометрия, электронная микроскопия, оптоэлектроника, атомносиловая микроскопия |
Время действия проекта: | 2004-2006 |
Тип: | исследовательский |
Руководитель(и): | Сорокин,ЛМ |
Подразделения: | |
Код проекта: | 04-02-16632 |
Финансирование 2004 г.: | 350000 |
Исполнители: |
Волкова,АА: лаб. физики полупроводниковых приборов (Лебедева,АА) Дунаевский,МС: лаб. оптики поверхности (Берковица,ВЛ) Лебедев,АА: лаб. физики полупроводниковых приборов (Лебедева,АА) Мосина,ГН: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС) Петров,ВН: лаб. оптики поверхности (Берковица,ВЛ) Савкина,НС: лаб. физики полупроводниковых приборов (Лебедева,АА) Стрельчук,АМ: лаб. физики полупроводниковых приборов (Лебедева,АА) Трегубова,АС: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС) Щеглов,МП : лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС) |