Название:Физические принципы снижения плотности дислокаций в гетероструктурах на основе нитрида галлия
Грантодатель:РФФИ
Область знаний:02 - ФИЗИКА И АСТРОНОМИЯ
Научная дисциплина:02-204 Поверхность и тонкие пленки 02-202 Полупроводники 02-205 Микроструктуры 02-212 Образование и структура кристаллов
Ключевые слова:ростовые дислокации, полупроводники, гетероструктуры, тонкие пленки, нитрид галлия
Время действия проекта:2005-2006
Тип:исследовательский
Руководитель(и):Константинов,ОВ
Подразделения:
Код проекта:05-02-17781
Финансирование 2005 г.:250000
Исполнители: Алексеев,ПС: сектор теории оптических и электрических явлений в полупроводниках (Аверкиева,НС)
Бугров,ВЕ: сектор теории твердого тела (Романова,АЕ)
Ильюшенков,ДС: None
Орлов,ДЮ: None
Романов,АЕ: сектор теории твердого тела (Романова,АЕ)
Тараканов,ЮА : лаб. полупроводниковой квантовой электроники (Гуревича,СА)
Проект направлен на изучение физических механизмов, лежащих в основе формирования и эволюции ростовых дислокаций в эпитаксиальных гетероструктурах гексагональных материалов на примере нитрида галлия. Достижение пониженной плотности ростовых дислокаций при эпитаксиальном росте пленок нитрида галлия на подложках, рассогласованных с ним по параметру решетки, является важнейшей научно-технологической задачей, решение которой требует изучения фундаментальных механизмов зарождения и эволюции дислокаций в таких гетероструктурах. В проекте предполагается построение физической модели образования ростовых дислокаций в растущих островковых пленках; проведение расчета энергетического фактора ростовых дислокаций в пленках нитрида галлия с учетом их взаимодействия с поверхностью пленки или гранями островков; теоретический анализ возможности междислокационных реакций, приводящих к уменьшению плотности дислокаций. Конечная цель проекта заключается в создании модели, описывающей эволюцию плотности ростовых дислокаций по мере роста островковой пленки с выраженным поверхностным рельефом и разработка на основе этой модели рекомендаций для достижения эффективного снижения плотности ростовых дислокаций в пленках полупроводниковых материалов с гексагональной структурой.