Название:	Исследование рельефа свободного графена с помощью просвечивающей электронной микроскопии
Грантодатель:	РФФИ
Область знаний:	02
Ключевые слова:	Графен, электронная дифракция, просвечивающая электронная микроскопия
Время действия проекта:	2013 - 201
Тип:	исследовательский
Руководитель(и):	Кириленко,ДА
Подразделения:	лаб. диагностики материалов и структур твердотельной электроники (Брункова,ПН)
Код проекта:	13-02-00669
Финансирование 2013 г.:	650000
Исполнители:	Михайлов,ЕМ: лаб. диагностики материалов и структур твердотельной электроники (Брункова,ПН) Никерман,ЯА: лаб. диффузии и дефектообразования в полупроводниках (Заморянской,МВ) Ситникова,АА : лаб. диагностики материалов и структур твердотельной электроники (Брункова,ПН)

Графен, будучи двумерным материалом, тем не менее никогда не является плоским. Основная причина этого - поперечные колебания реш?тки (изгибные фононы), амплитуда которых в свободном графене достигает нескольких межатомных расстояний даже при комнатной температуре. Также на образование рельефа поверхности влияет взаимодействие флуктуаций зарядовой плотности с полем деформаций реш?тки. Нарушение симметрии кристалла существенно влияет на его свойства, в том числе и на проводимость. Кроме того, динамика изгибных фононов определяет теплопроводность графена. То, что свободный графен обладает достаточно сильным рельефом поверхности, установлено экспериментально, однако, роль тех или иных механизмов его формирования не вполне ясна. Физике данного явления посвящено множество теоретических работ, результаты которых порой противоречивы. Причиной этого является неполнота экспериментальных данных о спектре рельефа, его зависимости от температуры и внешних воздействий. Стоит особо подчеркнуть, что данная информация может быть получена только при исследовании свободного графена, не находящегося в контакте с подложкой. Однако, измерение рельефа свободного тонкого кристалла сопряжено со значительными трудностями из-за его высокой гибкости. При использовании зондовых методов (например, атомно-силовой микроскопии) взаимодействие кантилевера с кристаллом вносит существенные возмущения. Более того, измерение динамического рельефа обусловленного изгибными фононами требует принципиально иного подхода. Предлагаемая работа основана на оригинальном методе измерения спектра рельефа свободного графена с помощью электронной дифракции. Предполагается исследовать зависимость спектра от температуры, механических воздействий и плотности носителей заряда, что позволит ответить на различные вопросы касательно физики данного явления.