http://www.ioffe.ru

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе
Российской академии наук

Центр физики наногетероструктур

index.html

Лаборатория физики полупроводниковых гетероструктур

rfflag.jpg/ukflag.jpg

line

line

О группе

Сотрудники

Публикации

Оборудование

Подготовка кадров

Сотрудничество

Группа МОС-гидридной эпитаксии и исследования свойств наногетероструктур на основе нитридов III группы

Оборудование для исследования физических свойств эпитаксиальных наноструктур на основе III-N, выращенных методом ГФЭ МОС

Автоматизированная установка для оптической спектроскопии наногетероструктур на основе A3B5 выполнена на базе монохроматора МДР-23 и предназначена для измерения спектров фото- (ФЛ) и электролюминесценции (ЭЛ), спектров отражения, пропускания и спектроскопии возбуждения.

  Для регистрации спектров используется либо высокоскоростной оптоволоконный спектрометр Avantes 2048 (диапазон от 190 до 1100 нм), либо монохроматор МДР-23 и фотоприемник работающий в режиме счета фотонов или режиме синхронного детектирования.

  Для возбуждения фотолюминесценции могут использоваться различные лазеры: непрерывный He-Cd лазер λ = 325 нм, полупроводниковый лазер λ = 405 нм, или импульсный азотный лазер λ = 337.1 нм. Для измерения ФЛ и ЭЛ в интервале температур от 7 до 320 К используется гелиевый криостат замкнутого цикла.

Схематическое изображение и внешний вид установки для оптической спектроскопии.

pl1.jpg

pl2.jpg pl3.jpg

⇑Наверх


Автоматизированная установка для измерения оптических характеристик на базе микроскопа “ЛОМО ЛЮМАМ-И2” предназначена для измерения спектров микро-электро- и микро-фотолюминесценции. Регистрация спектров осуществляется с помощью высокоскоростного оптоволоконного спектрометра Avantes 3648, который позволяет измерять спектры в интервале от 190 до 1100 нм, и обладает высоким разрешением и чувствительностью. В составе установки имеется сканирующий стол, обеспечивающий перемещение с шагом 0.5 микрон для измерения распределения люминесценции по поверхности образца. Для измерения спектров в интервале температур от 80 до 300 К используется азотный проточный криостат.

Внешний вид автоматизированного измерительного комплекса на базе микроскопа ЛОМО.

el1.jpg el2.jpg

⇑Наверх


Установка для измерения вольт-ватт-амперных L-I-V характеристик гетероструктур.

Внешний вид и схематическое изображение установки для измерения ток-мощностных характеристик:

1. образец; 2. зонды; 3. фотодиод; 4. блок управления; 5. компьютер; 6. корпус.

qe1.jpg

Прямое напряжение на светодиод подается с помощью зондов. Изменение тока через структуру и регистрация фототока фотодиода осуществляется автоматизированным блоком, который управляется персональным компьютером. В результате измерения регистрируется L-I-V зависимость, что позволяет сравнивать между собой различные светодиодные структуры.

Светодиодные гетероструктуры на основе InGaN/GaN, излучающие в синем, зеленом, желтом и красном диапазонах длин волн.

qe2.jpg qe3.jpg
qe4.jpg qe5.jpg

⇑Наверх

  Изучение электрических параметров эпитаксиальных гетероструктур: концентрации ns и дрейфовой подвижности носителей заряда μ выполняются с помощью измерения эффекта Холла четырехзондовым методом Ван-дер-Пау на модернизированной установке Bio-Rad HL5200 с постоянным магнитом. Измерения производятся как при комнатной температуре, так и при температуре жидкого азота (77К).

Внешний вид установки для измерения эффекта Холла методом Ван-дер-Пау.

hallhallvdp.jpg

⇑Наверх